Park NX12 può essere utilizzato per qualsiasi progetto,Le numerose modalità di scansione e il design modulare della serie NX rendono facile adattarsi alle esigenze di qualsiasi microscopio a sonda di scansione.

Imaging standard:

• Vero modo senza contatto AFM
• Modalità contatto AFM
• Microscopia della forza laterale (LFM)
• imaging in fase
• Tipo di tocco AAFM

Prestazioni elettriche:

• AFM conduttivo
• Linee spettrali I-V
• Microscopio della sonda Kelvin (SKPM/KPM)
• SKPM ad alta tensione
• Microscopio a capacità di scansione (SCM)
• Microscopia di resistenza alla scansione (SSRM)
• Microscopio a scansione a tunnel (STM)
• Spettroscopia del tunnel di scansione (STS)
• Mappatura fotocorrente risolta nel tempo (Tr PCM)

Proprietà magnetiche:

• Microscopio a forza magnetica (MFM)
• Campo magnetico esterno regolabile MFM

Proprietà chimiche:

• Microscopio a cellule elettrochimiche a scansione (SECCM)
• Microscopia elettrochimica di scansione (SECM)
• Microscopi elettrochimici (EC-STM e EC-AFM)
• Microscopio chimico a forza con sonde funzionalizzate

Prestazioni termiche:

• Microscopia termica di scansione (SThM)

Prestazioni ottiche:

• Spettroscopia Raman potenziata con sonda (TERS)
• Mappatura fotocorrente risolta nel tempo (Tr PCM)

Proprietà dielettriche/piezoelettriche:

• Microscopio elettrostatico a forza (EFM)
• Microscopio elettrostatico a contatto dinamico (DC-EFM)
• Microscopio piezoelettrico a forza (PFM)
• PFM ad alta tensione

Proprietà meccaniche

• Mappatura nanomeccanica precisa
• Microscopia a modulazione della forza (FMM)
• nanoindentazione
• Nanolitografia
• Nanoincisione ad alta tensione
• nanomanipolazione
• Microscopio piezoelettrico a forza (PFM)

Misura della forza:

• Spettroscopia della distanza di forza (F-D)
• Forza immagini in volume
• Calibrazione del coefficiente di elasticità mediante il metodo del rumore termico

microscopio a forza atomica microscopio a forza atomica